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作物农艺形态测量仪
名称 作物农艺形态测量仪
型号 ECA-NY01
报价
特点 本仪器广泛用于作物的育种、栽培等研究工作,可以大大减少人工工作量中出现的漏记、多记、错记、误差太大等现象,能够测量作物生长期的株高、穗位、茎粗、单叶面积、总叶面积、果实大小等,在测量过程中按照仪器的提示操作,自动记录。}
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ECA-NY01 作物农艺形态测量仪

本仪器广泛用于作物的育种、栽培等研究工作,可以大大减少人工工作量中出现的漏记、多记、错记、误差太大等现象,能够测量作物生长期的株高、穗位、茎粗、单叶面积、总叶面积、果实大小等,在测量过程中按照仪器的提示操作,自动记录。可以完善的记录每个样品在一个生长期内的生长状况,测量数值直接保存到SD卡中,并有专业软件形成作物农艺形态调查表。

仪器参数:

  1. 测量范围:0-3000mm
  2. 精度:1mm
  3. 分辨率:0.1mm
  4. 储存方式:SD卡
  5. 测量方式:有卡测量和无卡测量(需要读取IC卡)
  6. 主要测量参数:可以测量作物的株高、株直径、穗位、穗长、叶片长、叶片宽、叶片面积等;
  7. 测量结束后可自动储存测量的日期、时间和相对应的样品号

如果你对ECA-NY01作物农艺形态测量仪感兴趣,想了解更详细的产品信息,填写下表直接与厂家联系:


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